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失效檢測與半導體
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深能級瞬態(tài)光譜檢測(DLTS)
深能級瞬態(tài)光譜檢測(DLTS)是一種強大的技術(shù),常用于研究半導體中缺陷的濃度和載流子結(jié)合能。該技...
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激光電壓探測和成像
激光電壓探測 (LVP) 和激光電壓成像 (LVI) 是在電性失效分析中所采用的技術(shù),可在受控模式下對單個...
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